A22 MicroTec Plus 大量程激光粒度仪，采用聚焦激光散射或激光衍射的原理进行样品颗粒度的检测。低检测下限可达0.08µm ，在全球同类产品中都处于先地位。 大量程激光粒度仪A22的推出，可以替代之前Fritsch公司所生产的紧凑型、微米型、大量程微米型激光粒度仪，让您一次使用中可以同时获得过去三台机器的全部功效，使用更加便捷。

ANALYSETTE 28 动态颗粒图像分析仪，借助于500万像素的工业级双向远心镜头以及强大的分析软件，可快速对待测颗粒进行粒形分析，广泛应用于质量控制、研发部门以及实验室，可替换筛分分析。应用领域：玻璃、陶瓷、碳素制品、催化剂、食品、金属粉末、药剂、肥料等。