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A22 MicroTec Plus 大量程激光粒度仪

简要描述:A22 MicroTec Plus 大量程激光粒度仪,采用聚焦激光散射或激光衍射的原理进行样品颗粒度的检测。低检测下限可达0.08µm ,在全球同类产品中都处于先地位。
大量程激光粒度仪A22的推出,可以替代之前Fritsch公司所生产的紧凑型、微米型、大量程微米型激光粒度仪,让您一次使用中可以同时获得过去三台机器的全部功效,使用更加便捷。

  • 更新时间:2024-01-18
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详细介绍

德国Fritsch公司是实验室样品预处理和颗粒度分析的专家。


Fritsch公司的A22 MicroTec Plus 大量程激光粒度仪,采用聚焦激光散射或激光衍射的原理进行样品颗粒度的检测。低检测下限可达0.08µm ,在全球同类产品中都处于先地位。
大量程激光粒度仪A22的推出,可以替代之前Fritsch公司所生产的紧凑型、微米型、大量程微米型激光粒度仪,让您一次使用中可以同时获得过去三台机器的全部功效,使用更加便捷。


技术参数:

1. 分析方法:激光散射/激光衍射
2. 湿法测量范围:0.01 - 2000 µm
3. 测量时间:5-10 s(单一测量时测量值记录);2 min(整个测量循环)
4. 分析样品回路体积:300-500ml,可调节容积, 可调速径向泵
5. 测量周期:2min
6. 光学排列:反傅立叶设计,活动的测量元件(FRITSCH*利)
7. 测量通道:165
8. 测量结果的重xian性:≤0.5%
9. 光源:波长532nm 2束、波长940 nm 1束
10. 双激光三束设计:绿光、红色双激光测量光束,绿色激光束背向补偿
11.傅里叶透镜:260mm和560mm焦距(绿光或红外线)
12.软件:采用FRITSCH MaS控制软件,用于控制,记录和评估测量结果
13.符合国际ISO13320标准


主要特点:

1. 大量程激光粒度仪A22 MicroTec Plus,可替代以前的紧凑型、微米型、大量程微米型激光粒度仪
2. 双激光三束设计: 绿光2束 (532nm), 红色激光1束 (940nm)
3. 先进的曲光系统
4. 双测量位置
5. 测量时间10 sec.
6. 高效的自动光束测量阵列
7. 测量系统和湿法分散系统单独分开
8. 适用于在水相及大多数有机相(例如异丙醇) 中使用
9.可调节容积, 通过电脑可实现选择:300、400、500ml
10.测量单元使用 Cardridge-like 设计,易于转换改变
11.可调节的超声波探头
12.无须使用搅拌器



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